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日本SSD進口H0110-S4B測量儀器MEASURES
日本SSD進口H0110-S4B測量儀器MEASURES
靜電衰減測量儀適用于檢查材料的靜電擴散率,通過用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使樣品帶電,然后在停止照射空氣離子后檢查電荷的衰減曲線。 。全新升級為H0110-S4B。
該設(shè)備符合JIS L1094-1980半衰期測量儀的要求,即測試紡織品和針織物靜電性能的方法。(如果需要用20mm的探頭高度進行校準(zhǔn),請在購買時注明。)
作為使樣品帶電的方法,使用通過電暈放電產(chǎn)生的空氣離子的照射,通過選擇電暈放電的極性和施加電壓,可以使樣品帶正電或負(fù)電。
可以測量所有片狀樣品,例如薄膜、板材、線、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制,請聯(lián)系我們。
Honest 可以進行演示測量。請與我們聯(lián)系以獲取更多信息。
誠實數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)已升級至V3。H0110-S4B 還支持 Honest。
為了將V3連接到H0110-S4A,需要對主機進行修改。對于其他舊型號,可能無法修改連接,請聯(lián)系我們。
從H0110-S4開始,校準(zhǔn)時的標(biāo)準(zhǔn)探頭高度為15毫米,符合JIS。如需20mm校準(zhǔn),請在訂購時注明。
購買時注明AC100V 50Hz/60Hz。